X射线衍射仪 (Bruker D8 ADVANCE)

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设备型号 :Bruker D8 ADVANCE

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负责人 :高永伟

联系人 :高永伟 62338346-6010,62336081

放置地点 :公共109房间 > 校本部实验楼109-2

IP地址 : 172.31.2.96

100元 / 样品

  • 名称X射线衍射仪
  • 资产编号20136758
  • 型号Bruker D8 ADVANCE
  • 规格*
  • 产地德国
  • 厂家布鲁克
  • 所属品牌布鲁克
  • 出产日期2013-09-28
  • 购买日期2013-09-28
  • 所属单位公共109房间
  • 使用性质科研
  • 所属分类光谱
  • 联系人高永伟
  • 联系电话62338346-6010,62336081
  • 联系邮箱
  • 放置地点校本部实验楼109-2

主要规格及技术指标

1. X射线光源 1.1. X射线发生器部分 *1.1.1 最大输出功率:3kW 1.1.2 额定电压:60kV *1.1.3 额定电流:80mA 1.2 X射线光管部分 1.2.1 X射线光管:Cu靶,陶瓷X光管,2.2 kW *1.2.2 采用TWIST-TUBE(旋转光管)技术,无需拆卸光管,即可实现光管本身线焦斑和点焦斑的切换。 1.2.3 焦斑大小:0.4 x 12 mm
2. 测角仪部分 *2.1 测角仪:采用光学编码器技术与步进马达双重定位 *2.2 扫描方式:连续/步进,测角仪,测角仪垂直放置 2.3转动范围:-10°~168° 2.4 测角仪半径:≥200 mm,测角圆直径可连续改变 *2.5 可读最小步长:0.0001°,角度重现性:0.0001° 2.6 驱动方式:步进马达驱动 2.7 验收精度:国际标准样品现场检测,全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01度。
3. 探测器部分:相对与常规探测器强度提高450倍,灵敏度提高一个数量级 *3.1 子探测器个数:192个 *3.2 探测器通道数:2880个 3.3 最大计数:≥1 x 109 cps 3.4 线性范围:≥4x107 cps *3.5 能量分辨率:<680 eV, 能自动扣除Kα2,而不需要单色器或滤片。 *3.6提供的半导体阵列探测必须适合小角和广角测试,小角最小从0.5度开始 *3.7 提供的半导体阵列探测器必须同时合适常规物相分析也适合薄膜反射率测量,不需要更换其他探测器

主要功能及特色

X射线多晶衍射仪的应用范围广泛,能够精确地对金属和非金属多晶样品进行物相定性定量分析,薄膜材料的物相、厚度、密度、粗糙度分析,结晶度分析、晶胞参数计算和固溶体分析,微观应力及晶粒大小分析,微区分析。在木材材料科学上,可以检测纤维素相对结晶度、晶区大小、微纤丝角等等。
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